N5831 श्रृंखला सुपरकैपेसिटर/बैटरी कैपेसिटेंस और DCIR परीक्षक

●सुपरकैपेसिटर का अनुसंधान एवं विकास, उत्पादन और गुणवत्ता निरीक्षण

●सुपरकैपेसिटर सामग्री अनुसंधान

●सुपरकैपेसिटर के अन्य संबंधित क्षेत्र

विभिन्न आवश्यकताओं को पूरा करने के लिए विभिन्न मॉडल और विशिष्टताएँ

1) वोल्टेज रेंज: 0-200V, वर्तमान रेंज: 0-1200A, पावर रेंज: 0-200kW।

2) मॉड्यूलर डिजाइन, पावर अनुकूलन उपलब्ध है।

3) सेल और मॉड्यूल परीक्षण दोनों का समर्थन करने के लिए विभिन्न परीक्षण फिक्स्चर और व्यापक रूप से कवर की गई पावर रेंज।

4) वोल्टेज आउटपुट सटीकता: 0.05%, वर्तमान आउटपुट सटीकता: 0.05%।

माप सटीकता में सुधार के लिए उच्च आवृत्ति नमूनाकरण

वोल्टेज और करंट सैंपलिंग दर 1ms तक है। उच्च नमूनाकरण दर सटीक समाई गणना के लिए व्यवहार्यता प्रदान करती है।

विभिन्न परीक्षण मांगों को पूरा करने के लिए विभिन्न परीक्षण फिक्स्चर

N5831 श्रृंखला चार वैकल्पिक प्रकार के परीक्षण स्थिरता प्रदान करती है। मुट्ठी प्रकार सार्वभौमिक स्थिरता है, जो विभिन्न बेलनाकार बैटरियों के लिए उपयुक्त है। दूसरा प्रकार मगरमच्छ क्लिप है, जो वैज्ञानिक अनुसंधान (उच्च-वर्तमान उपकरणों सहित) के लिए उपयुक्त है। अनुसंधान के उद्देश्य से किसी भी विशेष आकार की बैटरी को चार्जिंग और डिस्चार्जिंग इलेक्ट्रोड और मापने वाले इलेक्ट्रोड को बाहर निकालकर क्लैंप किया जा सकता है। तीसरा प्रकार पॉलिमर बैटरियों के लिए विशेष बनावट है। चौथा प्रकार बटन बैटरियों के लिए विशेष बनावट है।

चार्ज-टू-डिस्चार्ज के दौरान तेज़ प्रतिक्रिया

N5831 को तेज़ और सटीक चार्जिंग और डिस्चार्जिंग ट्रांज़िशन सुनिश्चित करने के लिए सटीक सर्किट के साथ डिज़ाइन किया गया है। चार्जिंग प्रक्रिया के दौरान, CC चार्जिंग को CV चार्जिंग में बदलने के दौरान कोई ओवरचार्ज नहीं होता है, जो DUT को क्षतिग्रस्त होने से बचा सकता है। N5831 में CV चार्जिंग से CC चार्जिंग और 1ms सैंपलिंग दर तक निर्बाध संक्रमण की विशेषताएं हैं, जो DCIR के लिए QC/T 741, छह-चरण विधि और चार्ज-टू-डिस्चार्ज विधि की परीक्षण आवश्यकताओं को पूरा कर सकती हैं।

माप त्रुटि को कम करने के लिए चार-इलेक्ट्रोड माप

आपूर्ति किए गए परीक्षण फिक्स्चर 4 इलेक्ट्रोड के साथ हैं। परीक्षण करंट प्रदान करने के लिए दो आउटपुट इलेक्ट्रोड का उपयोग किया जाता है, और बैटरी वोल्टेज को मापने के लिए दो माप इलेक्ट्रोड का उपयोग किया जाता है। मल्टी-इलेक्ट्रोड माप न केवल माप सटीकता में सुधार करता है, बल्कि संदर्भ इलेक्ट्रोड परीक्षण का भी समर्थन करता है, जो इलेक्ट्रोड सामग्री के अनुसंधान के लिए उपयुक्त है।

मल्टी-चैनल तापमान अधिग्रहण

N5831 श्रृंखला 16-चैनल तापमान अधिग्रहण का समर्थन करती है, जो विभिन्न एनटीसी (नकारात्मक तापमान गुणांक) के लिए उपयुक्त है, सुपरकैपेसिटर मॉड्यूल आंतरिक तापमान की वास्तविक समय की निगरानी की जरूरतों को पूरा करती है, और परीक्षण के दौरान सुरक्षा और स्थिरता सुनिश्चित करती है।

अनुप्रयोग प्रक्रिया सामग्री

1) N5831 सॉफ़्टवेयर एक प्लेटफ़ॉर्म डिज़ाइन को अपनाता है, जो उपयोगकर्ताओं को उनकी आवश्यकताओं के अनुसार परीक्षण प्रक्रिया को अनुकूलित करने की अनुमति देता है।

2) कार्यालय जैसा इंटरफ़ेस, प्रत्येक चैनल का स्वतंत्र प्रदर्शन, वोल्टेज और वर्तमान तरंग पीढ़ी का समर्थन, और सारणीबद्ध रूप में परिणाम प्रदर्शन इस पेशेवर सॉफ़्टवेयर को बहुक्रियाशील और उपयोग में आसान बनाता है।

3) N5831 को पावर लिमिट सर्किट के साथ डिज़ाइन किया गया है और इसमें तेज़ प्रतिक्रिया है, जो N5831 को अधिक बिजली के कारण क्षतिग्रस्त होने से बचा सकता है।

4) एन5831 परिरक्षण तकनीक को अपनाता है, जिसमें कठोर परीक्षण वातावरण के लिए व्यापक अनुकूलनशीलता है, और हस्तक्षेप-विरोधी क्षमता में सुधार होता है।

समाई परीक्षण

N5831 सुपरकैपेसिटर की चार्जिंग कैपेसिटेंस और डिस्चार्जिंग कैपेसिटेंस को माप सकता है। परीक्षण विधि इस प्रकार है: सीसी मोड के तहत मापा सुपरकैपेसिटर को चार्ज या डिस्चार्ज करें, चार्जिंग या डिस्चार्जिंग प्रक्रिया के दौरान समय और वोल्टेज को रिकॉर्ड करें, और प्रक्रिया के दौरान वोल्टेज और समय की स्लीव दर की गणना करके कैपेसिटेंस की गणना करें। उपयोगकर्ता आईईसी जैसे विभिन्न माप मानकों के अनुसार गणना के लिए वोल्टेज और समय चुन सकते हैं।

डीसीआईआर परीक्षण

N5831 विभिन्न DCIR परीक्षण विधियों का समर्थन करता है: मल्टी-पल्स, सिंगल-पल्स, चार्ज-टू-डिस्चार्ज, छह-चरण परीक्षण और IEC परीक्षण, जो अधिकांश उपयोगकर्ताओं की परीक्षण आवश्यकताओं को पूरा कर सकता है। एनजीआई कोर तकनीक यह सुनिश्चित करती है कि विभिन्न परीक्षण विधियों में अत्यधिक सटीक परिणाम प्राप्त हों।

जीवन की परीक्षा

N5831 बार-बार चार्जिंग और डिस्चार्जिंग प्रक्रिया के दौरान सुपरकैपेसिटर के भौतिक मापदंडों को माप सकता है और इसके क्षीणन वक्र निकाल सकता है। मापदंडों और वक्रों का विश्लेषण करके, उपयोगकर्ता विभिन्न अनुप्रयोग वातावरणों, चार्जिंग और डिस्चार्जिंग चक्रों और विभिन्न चरणों में प्रदर्शन सूचकांक में सुपरकैपेसिटर का अपेक्षित जीवन प्राप्त कर सकते हैं। जीवन परीक्षण के परिणामों का उपयोग सामग्री, शिल्प, भंडारण और कई अन्य कड़ियों को बेहतर बनाने के लिए किया जा सकता है।